上海粉末冶金展（PM CHINA）創(chuàng)辦于2008年，經(jīng)過十余年的持續(xù)培育，PM CHINA現(xiàn)已發(fā)展成為世界粉末冶金行業(yè)的專業(yè)展會之一。PM CHINA推動技術(shù)創(chuàng)新、促進成果轉(zhuǎn)化，是中外企業(yè)加強交流合作、提升品牌形象、拓展目標市場的商貿(mào)平臺。
時間：2018年3月25日-27日
地點：上海光大會展中心 西館一、二、三樓
展位號：西館一樓 B150
展品：飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX
第五代飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 是*的集成化成像分析系統(tǒng)，分辨率提升 20%，進一步增加應用范圍，更加適用于對電子束敏感的樣品。借助該系統(tǒng)，既可觀察樣品的表面形貌，又可分析其元素組分。
研究樣品時，得到樣品的形貌信息只是解決了一半問題。獲得樣品的元素組分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊設計的能譜探測器，飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 可以完善解決上述所有問題。
顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)
顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)軟件可以輕松獲取、分析圖片，并生成報告。借助該軟件，用戶可以收集到大量亞微米顆粒的形貌和粒徑數(shù)據(jù)。憑借遠超光鏡的放大倍數(shù)，顆粒軟件全自動化的測量，可以把工業(yè)粉末的設計、研發(fā)和品管提升到一個新臺階。
借助顆粒系統(tǒng)軟件，用戶可隨時獲得數(shù)據(jù)。因此，它加快了分析速度，并提高了產(chǎn)品質(zhì)量。
臺式掃描電鏡在粉末冶金領域的應用
1. 粉體形貌、粒度觀察（<10000×，低壓SED）
2. 粉體粒度統(tǒng)計（使用飛納電鏡軟件-顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)）
3. 燒結(jié)件缺陷檢查（使用飛納電鏡軟件-超大視野自動全景拼圖）
4. 成品表面質(zhì)量檢查+雜質(zhì)判定（掃描電鏡+能譜）
5. 脫脂前后形貌觀察
同樣是黑色的金屬粉末，在高倍下呈現(xiàn)出不同的微觀結(jié)構(gòu)，這些微觀結(jié)構(gòu)將影響金屬粉的燒結(jié)、力學性能等
（a）
（b）
銅錫合金粉末在高倍下展現(xiàn)出不同形貌，有的呈樹枝狀（a），有的呈多孔疏松結(jié)構(gòu)（b）
更多關于飛納電鏡在粉末冶金領域的精彩內(nèi)容盡在《2018第十一屆上海粉末冶金展覽會暨會議》。
在此，飛納電鏡誠摯地邀請您參加此次展會，期待您的參與！
飛納電鏡
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